晶钻仪器振动测试系统中的多正弦测试允许在高达46千赫的频率范围内，多个独立的正弦信号同时扫频。相比普通的VCS正弦扫频，多正弦测试大大提高了长时间扫描和驻留测试的效率。
由于测试部件将在各种频率下产生谐振，因此正弦扫频通常用于确保频率范围内所有谐振的激励; 但是在整个频率范围内正弦频带扫频可能非常耗时。这种新的多正弦功能包括使用在频率范围内同时扫描的多个正弦频带（最多10个）来激发所有共振。 该技术的主要优点是它大大减少了测试时间。
多正弦控制可以同时扫描多个正弦频带，并确保可以激发结构的多个共振频率。 通过多次正弦激励，可以显着减少正弦测试所需的持续时间。 独立的跟踪滤波器分别应用于每个频带。
